GWB-200JA 引伸計標定儀 使用方法

使用說明：

請依據JJG762－92引伸計檢定規程要求，進行引伸計的檢定：

1、根據被檢引伸計的規格型號及測試的試樣規格，選擇與測試試樣基本一致的分離試樣。

2、調整兩測量支臂的位置，獲得適宜的檢定空間；調整兩測量支臂上偏心卡簧位置以使兩分離試樣保證同軸；調整測微頭與下底座的距離，以保證測微頭的有效行程。一切調整好后注意旋緊各個所需固緊部位，在檢定過程中除準許運動位移的部分外，都不準許有任何滑動或松動。

3、引伸計檢定范圍及檢測點的選擇與測試：

        1）檢定范圍應根據引伸計需要測試材料的技術參數決定。例如，使用50㎜標距引伸計測試鋼材試樣的σP0.2技術數據，那么請您選擇1㎜的檢定量程。如果測量n值則需要檢定25㎜的檢定量程。

        2）對檢定點的選擇，一般每個范圍不少于8點。對于上述選例在1㎜的檢定量程內，最好檢定10點，即每0.1㎜檢一點。

        3）檢定引伸計時一定用整數刻度倍讀法，不要用游標估算讀數或小數尾數讀數，因為每一次的十點讀數已造成了讀數的疲勞，估算讀數或小數尾數 讀數會加劇測量誤差的產生。而整數單刻線對整讀法最清晰簡單準確，出現 誤差的機率最小，即便出現也會及時發現，因為整數刻度倍讀數的誤差，其 引伸計誤差值也會成倍數增加，這種粗大誤差會被很快及時發現。

4、加長立柱的使用：在使用基本立柱檢定引伸計時，無法保證該引伸計的標距空間時，取掉基本立柱上保護帽，將加長立柱插入主立柱對準V型槽，旋緊上螺絲。一定要固緊后，方可使用。

結構特點及讀數方式：

1、本儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結構設計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合，同時配有加長立柱附件，配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣，可以方便地進行多種規格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據自己的測試特殊需要，配置專用配件進行精密微變形量計量。

2、精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數內筒、讀數外筒及高精密螺紋付組成。

其最大量程25㎜；最小分度（游標分度）0.0002㎜；旋轉外筒分度0.002㎜。

位移變化讀數為：

        L=（a+0.001b+0.0001c）-(a₀+0.001b₀+0.001c₀)

其中：

        a－內筒毫米刻線讀數

        b－外筒刻線讀數